For nylig annoncerede Infineon Technologies den succesfulde udvikling af verdens første 300 mm kraft Gallium Nitride (GaN) waferteknologi.
De tre primære metoder, der anvendes til fremstilling af monokrystallinsk silicium, er Czochralski (CZ) metoden, Kyropoulos metoden og Float Zone (FZ) metoden.
Oxidationsprocesser spiller en afgørende rolle i at forhindre sådanne problemer ved at skabe et beskyttende lag på waferen, kendt som oxidlaget, som fungerer som en barriere mellem forskellige kemikalier.
Siliciumnitrid (Si3N4) er et nøglemateriale i udviklingen af avanceret højtemperatur-strukturkeramik.
Ætsningsproces: Silicium vs. Siliciumcarbid
I halvlederfremstilling er præcisionen og stabiliteten af ætseprocessen altafgørende. En kritisk faktor for at opnå ætsning af høj kvalitet er at sikre, at wafers er helt fladt på bakken under processen.